Популярные Нано Технологии

Поиск предприятий

Страна
Регион России

Каталог

Ионный сканирующий микроскоп Strata FIB 205

Тип, марка - Strata

Поставщик - NTI

Ед. изм. - шт

Цена с НДС - дог.

Валюта - руб

Ионный сканирующий микроскоп Strata FIB 205. Ионный микроскоп с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, ускоряющее напряжение от 5 кВ до 20 кВ, разрешение 7 нм, ток пучка от 1 пА до 20 нА, плотность тока до 100 А/см2. Система оснащена 5-и осевым моторизованным столиком 50х50 мм, газовыми инжекционными системами для напыления проводников и диэлектриков, а также для травления образцов. Прибор идеален для анализа внутреннего строения объектов. В состав прибора включено программное обеспечение для автоматизированной подготовки проб к анализу на ПЭМ.

Технические характеристики

Авторизация

логин
пароль
Регистрация Забыли пароль?

Реклама нефтегаз