Популярные Нано Технологии

Поиск предприятий

Страна
Регион России

Каталог

ИНТЕГРА Прима

Тип, марка - ИНТЕГРА

Поставщик - НТ-МДТ, ЗАО

Ед. изм. - шт

Цена с НДС - дог.

Валюта - руб

СЗМ, который является центральным звеном комплектации ИНТЕГРА Прима вобрал в себя все достижения и последние разработки в области зондовой микроскопии. Он позволяет в контролируемых условиях проводить изучение рельефа и физических свойств поверхности с использованием практически любых применяемых сегодня методов зондовой микроскопии, достигая при этом атомно-молекулярного разрешения. Кроме того, в НаноЛабораторию включен ряд уникальных режимов и возможностей, что делает СЗМ базу ИНТЕГРА Прима приборами завтрашнего дня.
В ИНТЕГРА Прима реализовано несколько схем сканирования, позволяющих по совокупности характеристик наиболее полно отвечать требованиям конкретных измерений. Наилучшее разрешение получается при сканировании образцом, особенно при использовании сканеров с малыми размерами поля сканирования. Благодаря 22-разрядному ЦАП в ЗНЛ контроллере они имеют очень малый шаг сканирования и низкие шумы (0,24 А скв по вертикали) при соответствующей виброизоляции. При этом удается достигать атомарно-молекулярного разрешения. Исследования больших образцов целесообразно проводить в конфигурации сканирования зондом, когда зонд перемещается относительно неподвижного образца. Такая схема позволяет проводть сканирование участка поверхности размером до 100х100х10 мкм. Кроме того, разработан уникальный режим сканирования DualScanTM, при котором сканирование осуществляется за счет одновременного перемещения как образца, так и зонда. Это позволяет анализировать большие области поверхности образца (200х200 мкм), а также значительные по высоте (до 22 мкм) неоднородности рельефа, характерные, например, для живых клеток или компонентов МЭМС.
Closed-loop контроль обеспечивается использованием встроенных в сканеры сенсоров или эквивалентов сканеров, что улучшает характеристики сканирования и расширяет функциональность оборудования.
Сканеры 50х50 мкм оборудованы низкошумящими емкостными датчиками XYZ, которые обеспечивают точное позиционирование за счет точного измерения перемещения пьезокерамики. Таким образом, технология использования встроенных датчиков компенсирует несовершенство пьезокерами – такие свойства, как нелинейность, крип и гистерезис. Это особенно важно для экспериментов, связанных с проведением литографий и наноманипуляций. Слабый уровень собственных шумов делает возможным использование емкостных датчиков даже при малых размерах поля сканирования. Уникальная технология «эквивалент сканера» (CLE – closed-loop equivalent) позволяет осуществлять closed-loop контроль сканирования даже на очень малых областях (50-100 нм).
Контроллер и другие блоки СЗМ способны работать в высокочастотных режимах (до 5 мГц). Эта возможность оказывается принципиальной при работе с высокочастотными модами АСМ или использовании высокочастотных кантилеверов. Так, АСАМ (атомносиловая акустическая микроскопия) позволяет исследовать как мягкие, так и твердые образцы с проведением количественных измерений модуля Юнга в каждой точке сканирования. АСАМ позволяет получить существенно лучший контраст по сравнению с Методом Отображения Фазы при работе с мягкими объектами, а также делает возможным получение контраста на твердых образцах, что весьма затруднительно при использовании других методик.
Применения:
Биология и Биотехнология
- Протеины, ДНК, вирусы, бактерии, эукариоты, ткани
Материаловедение
- Морфология поверхности, локальные механические, пьезоэлектрические, адгезионные и трибологические характеристики
Магнитные Материалы
- Доменные структуры, магнитные частицы, магнитные пленки и многослойные структуры, устройства спинтроники, зависимость магнитных свойств от внешнего магнитного поля
Полупроводники
- Морфология подложек, распределение примесей, гетерограницы и границы p-n переходов, межфазные границы, качество и толщины функциональных слоев
Полимеры и Тонкие Органические Пленки
- Сферулиты и дендриты, полимерные монокристаллы, блок-сополимеры, политмерные наночастицы, ЛБ-пленки, тонкие пленки
Запоминающие среды и устройства
- CD, DVD диски, накопителя терабитных ЗУ с термомеханической, электрической, емкостной и др. типами записи
Наноматериалы
- Нанопорошки, нанокомпозиты, нанопористые материалы
Наноструктуры
- Фуллерены, нанотрубки, нанокапсулы
Наноэлектроника
- Квантовые точки
Нанообработка
- АСМ литография: силовая (наногравировка и наночеканка), токовая (Локальное анодное оксидирование), СТМ литография
Наноманипуляции
- Перемещение и ориентирование нанообъектов

Технические характеристики

Авторизация

логин
пароль
Регистрация Забыли пароль?

Реклама нефтегаз