Популярные Нано Технологии

Поиск предприятий

Страна
Регион России

Каталог

Система многомасштабного моделирования процессов самоорганизации и самосборки наноструктур SIAMS-CP Multiscale Modeling

Тип, марка - SIAMS-CP

Поставщик - SIAMS, Компания

Цена с НДС - дог.

Валюта - руб

В продукте SIAMS-CP Multiscale Modeling* реализован передовой метод многомасштабного моделирования наносистем с иерархической системой организации, содержащих упорядоченные или неупорядоченные ансамбли элементов разных размеров и архитектур.
Уникальные алгоритмы структурно-имитационного моделирования и анализа учитывают широкий диапазон временных и размерных эффектов, происходящих при самоорганизации ансамблей наночастиц в одно-, двух- и трехмерные структуры.
- Наноуровень
Моделирование структуры и свойств нанообъектов с учетом межчастичного взаимодействия
- Микроуровень
Моделирование структуры с учетом взаимодействия коллоидных частиц с раствором, внешними полями и т.п.
- Макроуровень
Анализ получаемых структур и материалов
Программа SIAMS-CP Multiscale Modeling позволяет задать внутренние и внешние условия процессов самоорганизации и самосборки для получения структуры с определенными морфологическими характеристиками.
Для анализа получаемых структур, программа SIAMS-CP Multiscale Modeling интегрируется с аналитической системой автоматизированного анализа изображений SIAMS-CP Nanotech.
Объекты моделирования:
- Наноструктурированные ансамбли органических, металлических и полупроводниковых частиц
- Коллоидные частицы сферической и асимметричной формы
- Микрокапли водных суспензий наночастиц
Специализированные решения SIAMS-CP Multiscale Modeling:
- NanoPack. Конструирование и производство наноматериалов и композитов
- NanoSinter. Наноспекание и получение керамики
- GasFlow. Протекание газа через мембрану
- NanoSensors. Конструирование хемосенсоров
Дополнительные модули
- FluidFlow. Протекание жидкостей через упаковки
- Reconstruction. Реконструкция трехмерной структуры материалов
- Multiphase FluidFlow. Моделирование процессов многофазной фильтрации
- Atomic Sinter. Моделирование спекания на атомарном уровне

* Комплекс SIAMS-CP Multiscale Modeling является результатом интеграции разработок Центра фотохимии РАН, компаний SIAMS и Smart Imaging Technologies (USA).

Авторизация

логин
пароль
Регистрация Забыли пароль?

Реклама нефтегаз