Популярные Нано Технологии

Поиск предприятий

Страна
Регион России

Каталог

Система фотолюминесцентных измерений VerteX

Поставщик - Сигм плюс, ООО

Цена с НДС - дог.

Валюта - руб

Система фотолюминесцентных измерений VerteX представляет собой новую и наиболее совершенную модель в линейке приборов RPM, являющихся признанным промышленным стандартом. Благодаря ряду новшеств, VerteX обеспечивает непревзойденную точность, повторяемость и воспроизводимость результатов. Это гарантирует надежность фотолюминесцентных измерений (ФЛ измерений) и позволяет четко контролировать эпитаксиальный процесс.

VerteX специально разработан для обеспечения абсолютно точных и повторяемых ФЛ измерений в очень широком диапазоне длин волн. Система позволяет исследовать ФЛ свойства образцов, начиная с УФ спектрального диапазона (слои AlGaN с высоким содержанием Al для полевых транзисторов на основе GaN, УФ-лазеры) и заканчивая средним ИК диапазоном (гетероструктуры в системе материалов GaSb). С целью достижения оптимальных условий измерений для установки на VerteX на выбор предлагается более 15 стандартных лазеров. Дополнительно предусмотрен ввод возбуждающего излучения через оптоволокно, что позволяет использовать практически неограниченный набор источников. Монохроматор может быть оснащен тремя дифракционными решетками и двумя матричными детекторами. В процессе измерений конфигурирование монохроматора происходит автоматизировано с помощью компьютера. Для обеспечения максимальной точности измерений длины волны в VerteX установлен эталонный спектральный источник для калибровки монохроматора.

В VerteX может быть установлено до 4 внутренних лазеров. Для двух из них реализована схема непрерывной плавной подстройки мощности излучения с системой обратной связи, предназначенная для стабилизации плотности мощности возбуждающего излучения. Для оптического возбуждения в системе преимущественно используется оптическая схема с непосредственной засветкой исследуемого образца. Для громоздких лазеров излучение может подаваться на образец через оптоволокно.

Для измерения толщин слоев дополнительно может устанавливаться источник белого света. Интерпретация результатов измерений и определение толщин слоев осуществляется с помощью модуля Фурье-преобразования, входящего в состав обновленного программного обеспечения VerteX.

Авторизация

логин
пароль
Регистрация Забыли пароль?

Реклама нефтегаз