Популярные Нано Технологии

Поиск предприятий

Страна
Регион России

Каталог

RPM 2000 Настольная система измерения распределения фотолюминесцентного сигнала

Поставщик - Сигм плюс, ООО

Цена с НДС - дог.

Валюта - руб

Настольная система измерения распределения фотолюминесцентного сигнала по площади исследуемого образца.

Фотолюминесцентные измерения являются хорошо отработанной неразрушающей бесконтактной методикой контроля гетероструктур, используемой при разработке и производстве полупроводниковых приборов. Измерения распределения спектров фотолюминесценции по площади пластины при комнатной температуре дает важную информацию об однородности составов и толщин, кристаллическом качестве, дефектности эпитаксиальных слоев и подложки.

RPM2000 разрабатывалась как система, позволяющая в промежутке между двумя эпитаксиальными процессами провести фотолюминесцентные измерения по поверхности только что выращенных образцов с последующей отбраковкой. Основное преимущество этой системы состоит в возможности быстро получить информацию о результатах ростового процесса и предпринять соответствующие действия, если эти результаты оказываются неудовлетворительными. Это позволяет предотвратить проведение ненужных ростовых циклов, экономит время, сырьё и сокращает себестоимость продукции. Кроме того, высокая скорость измерения позволяет легко проводить входной контроль и отбраковку закупаемых пластин.

Используя RPM2000, появляется реальная возможность проводить измерения фотолюминесценции по поверхности практически любой полупроводниковой пластины.

RPM2000 может быть сконфигурирована для работы в широком диапазоне длин волн соответствующим выбором дифракционных решеток, возбуждающих лазеров, фотоприемников и набора фильтров. Согласно требованиями пользователей и в зависимости от области применения подготовлено 14 различных версий RPM2000.

Особенности и преимущества:
- Программное обеспечение совместимо с операционной системой Windows® NT
- Данные измеряются и сохраняются в полярной системе координат. Отображение происходит прямоугольной системе координат (X,Y)
- Экспорт данных и графиков в форматы других программных пакетов
- Автоматический или самостоятельный выбор масштаба и цветовой схемы графи-ков
- Сканирование всего доступного диапазона длин волн за одно измерение
- Спектральные карты, дающие одновременно распределения положения и интенсивности максимума спектра ФЛ, его ширины и суммарной интенсивности
- Сохранение всех результатов измерений. Возможность получить спектр ФЛ в любой точке пластины
- Выбор скорости измерения вплоть до 200 спектров ФЛ или 2000 замеров интенсивности сигнала ФЛ в секунду
- Двух- и трехмерные графики для наглядного представления результатов
- Выборка данных вдоль отрезка, соединяющего 2 произвольно выбранные точки на поверхности пластины
- Определяемые пользователем зоны, исключаемые из рассмотрения при численной обработке измеренных спектров
- Статистические данные представляются в числовом виде или в виде гистограмм
- Определение состава твердого сплава
- Автоматическая запись конфигурации системы и условий измерения
- Возможность измерения спектров отражения от гетероструктур в белом свете для определения параметров Брэгговских отражателей, VCSEL, и толщин пленок.

Авторизация

логин
пароль
Регистрация Забыли пароль?

Реклама нефтегаз