Популярные Нано Технологии

Поиск предприятий

Страна
Регион России

Каталог

Вторично-ионный масс спектрометр PHI-6300

Поставщик - Сигм плюс, ООО

Цена с НДС - дог.

Валюта - руб

Вторично-ионный масс спектрометр спектрометр PHI-6300 фирмы Физикал Электроникс (США) бывший в употреблении, восстановленный и обновленный (refurbished, upgraded) на фирме PCS-Gerstl (Германия). Установка специалистами фирмы. Гарантия 1 год.

Вторично-ионная масс спектроскопия (ВИМС) является методом анализа поверхности твердых тел. В условиях высокого вакуума образец бомбардируется сфокусированным ионным пучком, имеющим энергию несколько кэВ. В результате бомбардировки часть атомов материала образца выбивается с поверхности в виде нейтральных атомов, а другая часть в виде положительных и отрицательных ионов. Эти вторичные ионы эмитируются с поверхностного слоя, глубиной порядка 1 нм. и поступают на вход масс-спектрометра, где происходит их анализ по массам. При малых плотностях ионного тока не происходит глубокого распыления материала образца (статический ВИМС) и на выходе анализатора регистрируется масс спектр вторичных ионов, характеризующий состав поверхности образца. При больших плотностях тока, одновременно с регистрацией масс спектра происходит распыление материала образца, что позволяет получить график распределение элементов состава тонких пленок по глубине (динамический ВИМС).

Сканируя ионный пучок по поверхности образца и анализируя массу вторичных ионов, можно получить пространственное распределение элементного состава в о вторичных ионах.

Метод позволяет регистрировать вторичные ионы во всем диапазоне от H до U с чувствительностью от ppb.

Высокая чувствительность метода и возможность анализа всех элементов таблицы Менделеева , в том числе изотопного анализа, делает метод незаменимым при исследованиях полупроводников, полимеров, катализаторов и в других областях.

Авторизация

логин
пароль
Регистрация Забыли пароль?

Реклама нефтегаз