Популярные Нано Технологии

Поиск предприятий

Страна
Регион России

Каталог

ПО для лазерных эллипсометров

Поставщик - Институт физики полупроводников СО РАН

Цена с НДС - дог.

Валюта - руб

Программа для проведения эллипсометрических измерений для фиксированной длины волны 632.8 нм. Программа включает в себя пакет моделирования, симуляции, что позволяет пользователю успешно решать сложные задачи. Наше программное обеспечение предоставляет библиотеку оптических констант материалов для длины волны 632.8 нм .

Программа имеет интуитивно понятный интерфейс, удобна в использовании. Система управления позволяет проводить измерения в автоматическом режиме, моделировать результаты для дальнейшего их использования.

Основные возможности программы:
- проведение измерений толщины и коэффициента отражения;
- проведение быстрых кинетических измерений( минимальное время 40 микросекунд, типичное 1 микросекунда);
- многоугловые измерения;
- обширные возможности симуляции для всех видов эллипсометрических измерений, как функций угла падения света, длины волны и других параметров модели симуляции;
- самодокументирование программы в виде файлов измерения, рапортов, содержащих результаты измерения .

Спектральная эллипсометрия
ПО для спектральных эллипсометров включает в себя пакет моделирования, симуляции и фитинга, что позволяет пользователю успешно решать сложные задачи. Наше программное обеспечение предоставляет библиотеку оптических констант материалов и широкое число дисперсионных моделей диэлектрических функций для многих материалов.

Программа имеет интуитивно понятный интерфейс, удобна в использовании. Система управления позволяет проводить измерения в автоматическом режиме, моделировать результаты для дальнейшего их использования.

Основные возможности программы:
- проведение спектральных измерений;
- использование дисперсионных моделей для различных материалов;
- обновление библиотек материалов;
- обширные возможности симуляции для всех видов эллипсометрических измерений, как функций угла падения света, длины волны и других параметров модели симуляции;
- самодокументирование программы в виде файлов измерения, рапортов, содержащих результаты симуляции и фитинга в текстовом и графическом виде.

Программа поддерживает описание следующих моделей свойств материалов:
- композитные материалы;
- неравномерные неоднородные слои (линейные, параболические, Gaussian):
- поддерживает широкий ряд параметризированных материалов(Cauchy, Sellmeier, Lorentz oscillator,Forouhi-Bloomer, и так далее).

Сайт http://www.thinlayers.ru

Авторизация

логин
пароль
Регистрация Забыли пароль?

Реклама нефтегаз