Каталог
Каталог/Продукция/Нанопродукция и разработки по отраслям/Медицина/Оборудование для работы с нанопродукцией/Металлургия /Электрооборудование/Анализ, измерения, тесты/Гели/нанопорошки/закономерности взаимодействия наноматериалов с другими веществами /Экономика и управление/Промышленное/Гражданское/Технико-экономические обоснования/Оценка и оптимизация процессов /переключатели /устройства памяти и мемристоры /квантовые компьютеры (для криптографии) /нейросетевые компьютеры (для обработки изображений) /гетерогенные интегральные наносистемы /Биосовместимая нанокерамика/
Томографический Atom Probe
Поставщик - КОМЕФ, ООО
Цена с НДС - дог.
Валюта - руб
Томографический Atom Probe (методика TAP) для 3D элементного картирования с разрешением по атомной шкале. Применяется в металлургии (распространение трещин, нано включения, сегрегация, нанокристаллизация в аморфных сплавах) и других проводящих образцах (множественные слои, имплантация...).