Популярные Нано Технологии

Поиск предприятий

Страна
Регион России

Каталог

Система для травления материалов сфокусированным ионным пучком FIB-2100

Тип, марка - FIB-2100

Поставщик - InterLab Inc. (Интерлаб)

Цена с НДС - дог.

Валюта - руб

Совершенно уникальная система для травления материалов сфокусированным ионным пучком и для отбора микро-проб из образца. Позволяет невероятно быстро подготовлять образцы для последующего исследования на просвечивающих, сканирующих и сканирующе-просвечивающих микроскопах.
Травление ионами Ga
Ускоряющее напряжение в 30кВ и новый дизайн ионно оптической колонны позволяют существенно увеличить скорость травления.
Встроенный ионный микроскоп с разрешением в 10 нм.
Возможность осаждения W и C.
Уникальная полностью автоматизированная система для отбора микро-проб из образов.
Держатель образцов совместимый с другими электронными микроскопами Hitachi.

Технические характеристики

Авторизация

логин
пароль
Регистрация Забыли пароль?