Каталог
Система для травления материалов сфокусированным ионным пучком FIB-2100
Тип, марка - FIB-2100
Поставщик - InterLab Inc. (Интерлаб)
Цена с НДС - дог.
Валюта - руб
Совершенно уникальная система для травления материалов сфокусированным ионным пучком и для отбора микро-проб из образца. Позволяет невероятно быстро подготовлять образцы для последующего исследования на просвечивающих, сканирующих и сканирующе-просвечивающих микроскопах.
Травление ионами Ga
Ускоряющее напряжение в 30кВ и новый дизайн ионно оптической колонны позволяют существенно увеличить скорость травления.
Встроенный ионный микроскоп с разрешением в 10 нм.
Возможность осаждения W и C.
Уникальная полностью автоматизированная система для отбора микро-проб из образов.
Держатель образцов совместимый с другими электронными микроскопами Hitachi.