Популярные Нано Технологии

Кадры

Справочник

Англо-русский нанотехнологический словарь

L

Landau levels (Ландау уровни) - уровни орбитального квантования спектра свободных носителей заряда двумерной системы в магнитном поле, обусловленного финитным характером их движения (циклотронное движение). В трехмерной системе, где носители могут иметь произвольную компоненту квазиимпульса вдоль магнитного поля, правильнее говорить о (одномерных) подзонах Ландау.

Landauer formula (Ландауэра формула) - формула для кондактанса квантовой нити, связывающая его с квантом проводимости G0, коэффициентом прохождения T и числом одномерных подзон в нити i G1D= iG0T

Laser Desorbtion/Ionization Mass Spectrometry (масс-спектрометрия с лазерной десорбцией и ионизацией) - метод масс-спектрометрии, основанный на десорбции и ионизации атомов или молекул пробы импульсным лазерным излучением ультрафиолетового или инфракрасного диапазона.

layered double hydroxides (слоистые двойные гидроксиды) - класс неорганических соединений, состоящих из положительно заряженных слоев, образованных ионами разновалентных металлов и гидроксид-ионами, и подвижных анионов в межслоевом пространстве.

light emitting diode (светодиод) - полупроводниковый прибор, излучающий некогерентный свет при пропускании через него электрического тока.

limit of detection (предел обнаружения) - минимальная концентрация или минимальное количество вещества, которое может быть обнаружено данным методом с допустимой для него погрешностью.

liquid-phase epitaxy (эпитаксия жидкофазная) - разновидность эпитаксии как одного из технологических методов, применяемых для получения многослойных полупроводниковых гетероструктур типа AlGaAs/GaAs.

low-energy electron diffraction (дифракция медленных электронов) - метод исследования структуры поверхности твердых тел, основанный на анализе картин дифракции низкоэнергетических электронов с энергией 30-200 эВ, упруго рассеянных от исследуемой поверхности.

low-energy electron microscopy (микроскопия медленных электронов) - вид микроскопии, в которой для формирования изображения поверхности твердого тела используют упруго отраженные электроны низких энергий.

Авторизация

логин
пароль
Регистрация Забыли пароль?