Курсы повышения квалификации проводятся для специалистов-металловедов и начальников лабораторий металлургических и машиностроительных предприятий. По окончании курсов выдается свидетельство государственного образца.
Необходимость и актуальность данного курса обусловлена стремительным прогрессом в применении цифровых технологий в микроскопии для решения задач материаловедения. На любом уровне инструментальной регистрации изображений (макро-, микро-, нано-) носителем информации о материале остается структура. Получив численную регистрацию, она становится более информативной - ее легко описать количественными характеристиками, смоделировать эволюцию, передать данные для участия в других технологических и информационных процессах. Поэтому тематика курса связана с вопросами, оперирующими понятием структура в цифровом виде: применение систем регистрации и анализа изображений, закономерности формирования структуры, получение количественных характеристик структуры, метрология и стандартизация в материаловедении.

Программа курсов

Современные методы металлографии
Экспериментальные методы определения структуры. Введение в микроскопию (ОМ, ЭМ, РЭМ, ПЭМ, АСМ, ТМ). Современные тенденции в развитии оптической микроскопии. Металлографические микроскопы. Цифровая микроскопия. Пробоподготовка в микроскопии

Стандартизация в контроле микроструктуры
Менеджмент качества металлургической продукции, ISO. Сертификация металлографических лабораторий. Документооборот и управление в металлографическом контроле, структурная карта изделия

Цифровая микроскопия и анализ изображения
Технология электронных таблиц SIAMS, SIMAGIS в анализе изображения. Автоматизированные методики анализа изображения и контроля структуры. Обзор решений металлографических задач в анализе изображений. Анализ зерна в сплавах. Контроль содержания неметаллических включений

Закономерности формирования структуры в сплавах
Типы и морфология микроструктур. Перлитное превращение в стали. Структура и фазовые превращения в сплавах титана. Структура и свойства высокоазотистых аустенитных сталей. Структура наноматериалов. Компьютерное моделирование структурообразования в материалах

Измерение в количественной металлографии
Проблема метрологии в металлографическом контроле. Количественная взаимосвязь "состав-структура-свойства". Multiscale-подход в металлографии. Источники погрешностей в цифровой микроскопии

Демонстрация возможностей анализаторов SIAMS на базе исследовательских микроскопов Leica. Практические занятия по анализу изображений

Период и порядок обучения

Курсы состоят из двух этапов:
Заочное (дистанционное) обучение - лекции, практические занятия, тестовые задания
Очное обучение - лекции, семинары, лабораторные работы, отчетная выпускная работа
Суммарный объем программы – 102 час

Оплата обучения

Оплата производится безналичным расчетом после заполнения заявки на обучение.
Бланк заявки в формате Word можно заполнить и отправить по факсу (343) 379-00-34 (35) или по электронной почте dm@siams.com

Кадровый потенциал курсов

Обучение проводится на базе ИКМАД УГТУ-УПИ с привлечением преподавателей высокой квалификации и ведущих специалистов отраслевых институтов.
Счастливцев В.М. - академик РАН, зав. лабораторией Физического металловедения Института физики металлов УрО РАН
Попов А.А. - д.т.н., профессор, зав. кафедрой Термообработки и физики металлов УГТУ-УПИ
Гроховский В.И. - к.т.н., доцент кафедры Физические методы и приборы контроля качества УГТУ-УПИ
Березовская В.В. - д.т.н, профессор кафедры Металловедения УГТУ-УПИ
Гладковский С.В.– д.т.н., Институт машиноведения УрО РАН
Шур В.Я. - д.ф.-м.н., зав. лабораторией Института физики и прикладной математики УрГУ
Коган Л.А. – к.т.н., заведующий отделом стандартизации и аттестации ВУХИН
Рабовский В.А. – к.т.н., директор Центра стандартизации, метрологии и сертификации продукции ОАО "Уральский институт металлов"
Добужская А.Б. - к.т.н., зав. лабораторией Металловедения ОАО "Уральский институт металлов"
Шульгин Д.Б. - к.ф.-м.н., директор Учебно-научного центра интеллектуальной собственности
Мальцева Л.А. - к.т.н., доцент кафедры металловедения УГТУ-УПИ
Кадушников Р.М. - к.ф.-м.н., директор ИКМАД УГТУ-УПИ
Яковлев Ю.Р. – к.т.н., технический директор компании SIAMS
Хватьков В.В. - президент компании Smart Imaging Technologies (США)

Контакты

По всем интересующим Вас вопросам обращайтесь к администратору курсов
Абрамовой Наталии Валерьевне
Тел.: (343) 379 00 34 (35,36)
E-mail: natasha@siams.com